MTS Nano-Indenter

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儀器廠牌 
辛耘企業股份有限公司
購置日期 
110年07月
放置位置 
人科二館 DS114
功能說明 

(1) 量測奈米薄膜材料之硬度與楊氏係數。
(2)配合軟體校正減少基板效應的影響。
(3)Nano indenterXP 具有獨家CSM量測系統,可精確的量測材料硬度值、彈性係數等。
(4)有高解析度定位平台與程式化路徑設定功能,因此可量測到基材上面的沉積薄膜性質。
(5)針對測量薄膜,塗層和材料進行壓痕,硬度,刮痕和通用奈米級測試。