奈米壓痕系統(MTS Nano-Indenter)
![](https://ims.yuntech.edu.tw/sites/default/files/2023-03/%E5%A5%88%E7%B1%B3%E5%A3%93%E7%97%95%E7%B3%BB%E7%B5%B1I-Nano-1.jpg)
Chinese, Traditional (繁體中文)
儀器廠牌
辛耘企業股份有限公司
購置日期
110年07月
放置位置
人科二館 DS114
所屬實驗室
功能說明
(1) 量測奈米薄膜材料之硬度與楊氏係數。
(2)配合軟體校正減少基板效應的影響。
(3)Nano indenterXP 具有獨家CSM量測系統,可精確的量測材料硬度值、彈性係數等。
(4)有高解析度定位平台與程式化路徑設定功能,因此可量測到基材上面的沉積薄膜性質。
(5)針對測量薄膜,塗層和材料進行壓痕,硬度,刮痕和通用奈米級測試。