X光繞射儀(XRD)
![](https://ims.yuntech.edu.tw/sites/default/files/2022-12/X%E5%85%89%E7%B9%9E%E5%B0%84%E5%84%80%EF%BC%88XRD%EF%BC%89.jpg)
Chinese, Traditional (繁體中文)
儀器廠牌
D8 ADVANCE, Bruker AXS GmbH
購置日期
100年12月
放置位置
人科二館 DS311 文物材料實驗室
所屬實驗室
功能說明
X光繞射儀是研究各式材料晶體結構所不可或缺的工具。藉由X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化,為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備。分析結果可解析晶體結構與相鑑定、結晶性分析 (Crystallinity)、晶格常數量測。
檢測項目
粉末繞射分析、塊材繞射分析、低掠角薄膜繞射分析(GID)