X光繞射儀（XRD）

X光繞射儀是研究各式材料晶體結構所不可或缺的工具。藉由X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化，為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備。分析結果可解析晶體結構與相鑑定、結晶性分析 (Crystallinity)、晶格常數量測。