X光繞射儀(XRD)

Chinese, Traditional (繁體中文)
儀器廠牌 
D8 ADVANCE, Bruker AXS GmbH
購置日期 
100年12月
放置位置 
人科二館 DS311 文物材料實驗室
功能說明 

X光繞射儀是研究各式材料晶體結構所不可或缺的工具。藉由X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化,為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備。分析結果可解析晶體結構與相鑑定、結晶性分析 (Crystallinity)、晶格常數量測。

檢測項目 

粉末繞射分析、塊材繞射分析、低掠角薄膜繞射分析(GID)